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安捷特--XRF鍍層測厚儀 CUBE系列

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一、功能

1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。

2. 鍍層層數(shù)：多至5層。

3. 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米。

4. 測量時間：通常35秒-180秒。

5. 樣品max尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。

6. 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。

7. 可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結構而定。

8. 同時定量測量8個元素。

9. 定性鑒定材料達20個元素。

自動測量功能：編程測量，自定測量；修正測量功能：底材修正，已知樣品修正
定性分析功能：光譜表示，光譜比較；定量分析功能：合金成份分析
數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖。



二、特點

1. 采用基本參數(shù)法校準，可在無標樣情況下生成校準曲線以完成測量。

2. X射線采用從上至下的照射方式，即使是表面高低不一的樣品也可以正確測量。反之，如果是從下至上的照射方式，遇到表面凹凸的樣品，無法調整Z軸距離，導致測量光程的變化，引起測量的誤差。

3. 具有多種測試功能，僅需要一臺儀器，即可解決多種測試

4. 相比其他分析設備，投入成本低

5. 儀器操作簡單，便可獲得很好的準確性和重現(xiàn)性



技術參數(shù)

Item

項目

Part & Ref Number

部件號

Commodity &Description

貨物及描述

1

Cube X射線鍍層測厚儀

· X射線光管  微聚焦，高性能，鎢靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm

· 高電壓 50千伏（1.2毫安）可根據(jù)軟件控制優(yōu)化

· 探測器  高分辨氣體正比計數(shù)探測器

· 準直器  單一固定準直器直徑0.3mm

· 樣品倉  330 x 200 x 170 mm

· 樣品臺  手動Z軸樣品臺

· 電源    230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W

· 儀器尺寸  350 x 420 x 310 mm

· 儀器重量  27Kg

· Windows 10操作系統(tǒng)和計算機主機

· 19寸液晶顯示器