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日本 Horiba動態光散射粒徑分布測試儀SZ100Zeta電位分析儀
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- 產品簡介
- 產品性能參數
- 適用范圍
- 服務網點
Horiba SZ100可更高靈敏度、高精度地評價單一納米粒子（粒子直徑、Zeta電位、分子量測定）完全解析納米粒子的物質結構
主要特點：
1. 將解析納米尺寸重要的三要素（粒子直徑、Zeta電位、分子量測定）的測定囊括于一身。
2. 從PPM順序的低濃度到百分之幾十的高濃度樣品，都能夠在保持原狀態下取樣調查、測定。
3. 微小容量電泳電池：為獨自研發，可以測定取樣調查僅100μL的Zeta電位。
4. 適合膠質粒子、機能性納米粒子材料、高分子、膠束、核糖體、納米囊等廣泛應用
5. 取樣調查后，只要按測定開始按鈕即可，操作簡單。
Horiba SZ100粒子直徑測定
超寬動態測定有效范圍：0.3nm~8000nm
通過采用與NEDO國家項目共同開發的相關器，實現高性能化。
在單一納米粒子專用光學系統中，采用低角度90度光學系統。
廣泛測定樣品濃度范圍
通過采用雙重光學系統，可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測定。
Horiba SZ100Zeta電位測定
通過安裝標準的Horiba自主研發的微型樣品池，可以測定僅100μL的樣本。
Horiba納米粒度儀SZ100廣泛應用于以下領域：
·陶瓷粒子
·金屬納米粒子
·石炭
·制藥
·病毒
·顏料、涂料
·化妝品
·聚合物
