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百特Bettersize3000plus激光圖像粒度粒形分析儀
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- 產品簡介
- 產品性能參數
- 適用范圍
- 服務網點
一、產品簡介
Bettersize3000plus激光圖像粒度粒形分析儀是一種采用半導體泵浦532納米波長的偏振激光器作為光源的智能化的激光粒度儀，采用單一光學全角度測量的光路系統，散射光探測角度無死角，具有頭等的分辨率，是百特公司的專利技術。同時在激光散射法測量的基礎上結合了動態顆粒圖像測量系統，使粗顆粒端的測量精度更高，同時采用百特公司的專有技術可以對激光法數據和圖像法數據進行融合，給出結合測試結果，而且圖像法還可以給出粒形上的信息數據，激光法與圖像法結合測量。該儀器還有一個顯著的特點就是可以進行折射率測量，折射率是激光粒度儀測試中的一個非常重要的參數，正確與否對測量結果的準確性有至關重要的作用，那么百特公司在Bettersize3000plus儀器的基礎上結合多年的研究成果，開發出具有創造性的折射率測量系統，使儀器的測量結果真實準確性有個可靠的保障。
激光法與圖像法結合技術，折射率測量技術。還具有濃度測量、比表面積推算、比重推算等功能。其它方面具有自動測試、自動對中、自動進水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗等特殊功能。采用高性能的進口半導體泵浦激光器，壽命大于25000小時；采用進口的高精度透鏡組，成像清晰，畸變很小，保證了微弱的、各種角度的散射光信號無一漏網。成像系統采用德國高速CCD與高像質遠心鏡頭，使顆粒成像清晰，采用高速的顆粒識別軟件，每分鐘可以分析幾萬到幾十萬的顆粒數目。該儀器具有準確可靠、重復性好、操作簡便、測試速度快等突出特點，是集激光技術、計算機技術、數字圖像技術、光電子技術于一體的新一代高性能的粒度測試儀器，可以與國外粒度儀一決高下，特別適合企業、高校、研究院所等實驗室選用。
二、良好的重復性
穩定有效的分散系統。
激光器、探測器、信號傳輸系統穩定可靠。
自動對中系統使儀器始終保持在理想狀態。
采樣速度達3500次/秒，大量數據有效減少少數異常數據對重復性的影響。
通過標準樣品驗證，結果與標稱值一致。
采用百特發明的雙鏡頭光學系統，大大提升了測量精度。
探測器數量96個，高性能軟件，無論樣品是單峰、雙峰還是多峰都能準確自動測試。
Bettersize3000plus激光圖像粒度粒形分析儀是一種采用半導體泵浦532納米波長的偏振激光器作為光源的智能化的激光粒度儀，采用單一光學全角度測量的光路系統，散射光探測角度無死角，具有頭等的分辨率，是百特公司的專利技術。同時在激光散射法測量的基礎上結合了動態顆粒圖像測量系統，使粗顆粒端的測量精度更高，同時采用百特公司的專有技術可以對激光法數據和圖像法數據進行融合，給出結合測試結果，而且圖像法還可以給出粒形上的信息數據，激光法與圖像法結合測量。該儀器還有一個顯著的特點就是可以進行折射率測量，折射率是激光粒度儀測試中的一個非常重要的參數，正確與否對測量結果的準確性有至關重要的作用，那么百特公司在Bettersize3000plus儀器的基礎上結合多年的研究成果，開發出具有創造性的折射率測量系統，使儀器的測量結果真實準確性有個可靠的保障。
激光法與圖像法結合技術，折射率測量技術。還具有濃度測量、比表面積推算、比重推算等功能。其它方面具有自動測試、自動對中、自動進水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗等特殊功能。采用高性能的進口半導體泵浦激光器，壽命大于25000小時；采用進口的高精度透鏡組，成像清晰，畸變很小，保證了微弱的、各種角度的散射光信號無一漏網。成像系統采用德國高速CCD與高像質遠心鏡頭，使顆粒成像清晰，采用高速的顆粒識別軟件，每分鐘可以分析幾萬到幾十萬的顆粒數目。該儀器具有準確可靠、重復性好、操作簡便、測試速度快等突出特點，是集激光技術、計算機技術、數字圖像技術、光電子技術于一體的新一代高性能的粒度測試儀器，可以與國外粒度儀一決高下，特別適合企業、高校、研究院所等實驗室選用。
二、良好的重復性
穩定有效的分散系統。
激光器、探測器、信號傳輸系統穩定可靠。
自動對中系統使儀器始終保持在理想狀態。
采樣速度達3500次/秒，大量數據有效減少少數異常數據對重復性的影響。
通過標準樣品驗證，結果與標稱值一致。
采用百特發明的雙鏡頭光學系統，大大提升了測量精度。
探測器數量96個，高性能軟件，無論樣品是單峰、雙峰還是多峰都能準確自動測試。
完善的樣品制備系統包括循環、超聲波分散、攪拌、自動進水、自動排水和自動清洗。
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激光散射系統
| 測試范圍 | 0.01-3500μm | 進樣方式 | 自動循環分散進樣系統 |
| 重復性誤差 | ≤0.5%（國標樣D50偏差） | 準確性誤差 | ≤0.5%（國標樣D50偏差） |
| 雙峰分辨力 | ≥1.65（兩標樣標稱值之比） | 測量原理 | 米氏散射理論 |
| 測量方式 | 全自動測量（SOP） | 測量速度 | ≤10秒 |
| 激光光源 | 偏振泵浦固體激光器（5mW/532nm） | 光路系統 | 斜入射雙鏡頭 |
| 露點溫度測量 | 有 | 探測角度 | 0.02-165o |
| 折射率測量范圍 | 1.4-3.6 | 操作系統 | WinXP/Win7/Win8/Win10 |
| 接口方式 | USB2.0或3.0 | 光電探測器 | 96個 |
| 超聲波功率 | 50W | 循環池容積 | 600ml |
| 循環流量 | 3000-8000ml/分鐘 | 體積、重量、電壓 | 820×610×290mm、48kg、AC220V、50/60Hz |
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顯微圖像系統
| 圖像分析范圍 | 2-3500μm | 進口高速CCD | 120幀/秒 |
| 遠心成像系統 | 放大倍數20-100倍 | 圖像識別速度 | 10000個顆粒/分鐘 |
| 分析項目 | 粒度分布、max粒徑、長徑比、圓形度、徑厚比等 | ||
- 各種非金屬粉：如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅等。
- 各種金屬粉：如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。
- 其它粉體：河流泥沙、鋰電池材料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫藥、農藥、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工材料、納米材料、造紙填料涂料、各種乳濁液等。
