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掃描電化學顯微鏡（Bsae-SECM）
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- 產品簡介
- 產品性能參數
- 適用范圍
- 服務網點
主要功能及特點
Bsae-SECM 是一套致力于研究的掃描電化學顯微鏡。Base-SECM 標準配置的功能已然十分強大，能滿足大多數研究的需要。在這基礎上，用戶還可以購置不同的功能模塊，以滿足特殊的研究需要。
主要技術參數
定位系統：XYZ 步進控制系統
動態范圍：25x25x25 mm（其他范圍可選）
大線掃速率：10mm/s
分辨率：20nm
掃描模式
- Feedback Mode 反饋模式
- GC Mode 產生收集模式
- Direct Mode 直接模式
- AC-SECM 微區阻抗模式
- 4D 模式
- Shearforce剪切力模式
探針掃描：
- 2D 掃描
- 3D 掃描
- 等間距掃描
- 快速等間距掃描
- 預設掃描
- 自編輯電化學程序掃描
應用領域
- 電化學動力學研究
- 吸附/脫附現象和溶解過程的研究
- 液/液界面，液/氣界面，液/固界面以及重要的生物過程
- 局部腐蝕過程觀測
- 催化劑活性評價
- 傳感器表面活性成像
- 局部阻抗分析
- 生物膜酶活性研究
- 微納米尺度的金屬顆粒沉積(恒電流或無電沉積)
- 在水或有機溶液中材料表面上導電聚合物局部沉積
- 電化學刻蝕
