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FEI 透射電子顯微鏡Talos F200X 材料科學應用
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Talos F200X 材料科學應用
速度200 kV FEG STEM，實現多維度化學分析
FEI Talos F200X 掃描/透射電子顯微鏡融合了高分辨率 STEM 和 TEM 成像功能與能量色散 X 射線光譜儀 (EDS) 信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學表征功能。Talos F200X 可在所有維度 (1D-4D) 下實現快速、精確的 EDS 分析，支持快速導航的動態顯微鏡 HRTEM 成像。與此同時，FEI Talos F200X 還提供高的穩定性和長正常運行時間。
STEM 成像分辨率和通量
FEI Talos F200X STEM 可以實現快速、準確且量化的多維納米材料表征。FEI Talos F200X 的創新功能可提高通量、精度與易用性，適于學院、政府和工業研究環境中的研究與分析。
配件
NanoEx-i/v TEM 夾持器
FEI 的全新樣品加熱和偏置夾持器將擴展您的顯微鏡的功能。對于各種應用領域內需要原位 加熱納米材料的精密實驗（例如對納米量退火行為、金屬相變、催化劑納米系統的結構改變與燒結現象、淬火、偏析/擴散現象等的研究），
更多詳細資料可來電咨詢，服務熱線：400-600-6053！
應用示例：采用 Talos 的自動三維 EDS
- FIB 制備的電池陽極材料
- 車輛老化汽車催化劑
- 納米管
- “核-殼”納米顆粒
